低溫漂采樣電阻設(shè)計(jì)和制造方法要求更高
來源:萬(wàn)利隆電子 閱讀量:2000發(fā)布時(shí)間:2020-03-13
低溫漂采樣電阻與其他精密電阻相比之下,低溫漂采樣電阻常見的電阻制造方法,如繞線、薄膜濺射或厚膜上光,更有可能引入機(jī)械應(yīng)力,其他電阻器更有可能產(chǎn)生熱機(jī)不平衡。因此,低溫漂采樣電阻終端用戶密切關(guān)注額定溫度規(guī)范,以確保低溫漂采樣電阻按照公布的規(guī)范運(yùn)行。低溫漂采樣電阻通過嚴(yán)格遵守這些值,最終用戶可以確保低溫漂采樣電阻的可靠性,而不管制造過程如何。
當(dāng)?shù)蜏仄蓸与娮韫ぷ髟陬~定溫度以上時(shí),它可能無法工作,或產(chǎn)生直接影響精度的損壞。如果這種低溫漂采樣電阻溫度過高的情況持續(xù)一段時(shí)間,個(gè)別的阻值可能會(huì)永久改變,導(dǎo)致整個(gè)電路故障。雖然制造商在設(shè)計(jì)產(chǎn)品時(shí),通常會(huì)在已公布的規(guī)格之外,增加一定的可接受溫度限度,但這種余地可能因制造商而異。解釋TCR、弦斜率和變化率分析規(guī)范。
盡管低溫漂采樣電阻在設(shè)計(jì)和相關(guān)的制造工藝上存在差異,低溫漂采樣電阻的TCR仍然是最普遍接受的電阻性能穩(wěn)定性指標(biāo)之一。低溫漂采樣電阻的TCR對(duì)于預(yù)測(cè)電阻對(duì)環(huán)境溫度變化的靈敏度,以及預(yù)測(cè)低、高工作溫度下的元件行為是必不可少的。
因此,金屬箔低溫漂采樣電阻的TCR考慮了個(gè)別規(guī)格范圍內(nèi)的極端理論條件。相比之下,與薄膜低溫漂采樣電阻等其他技術(shù)相比,制造商通常選擇在相對(duì)較窄的溫度范圍內(nèi)呈現(xiàn)TCR,較少?gòu)?qiáng)調(diào)或考慮極端的溫度效應(yīng)。除了之外低溫漂采樣電阻識(shí)別可能進(jìn)一步定義為兩個(gè)溫度之間的電阻變化,除以溫差(和弦坡),或TCR =(ΔR / R) /ΔT。常見的做法是定義冷弦坡從-55°C + 25°C,和熱和弦坡+ 25°C + 125°C。然而,任何其他溫度區(qū)間(ΔT)可以定義為好。定義在任何溫度對(duì)電阻率變化曲線,計(jì)算細(xì)胞數(shù)學(xué)當(dāng)ΔT無限小。
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