金屬箔電阻和薄膜精密電阻TCR進(jìn)行比較誰更有優(yōu)勢

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時(shí)間：2020-03-16

金屬箔電阻制造商通常以最佳熱斜率為目標(biāo)，同時(shí)將冷斜率保持在規(guī)定的范圍內(nèi)。一項(xiàng)使用變化率計(jì)算方法對大塊金屬箔和薄膜精密電阻TCR進(jìn)行比較分析的研究表明，溫度引起的電阻變化可以顯著大于規(guī)定的TCR限值。這個(gè)比較是基于對兩組不同的精密薄膜NiCr電阻的測試，每組來自不同的制造商，每組指定的TCR為5ppm /°C。

由于金屬箔電阻溫度軸從-55°C到+125°C的變化，金屬箔電阻的最大變化(TCR)將在-2.17 ppm/°C到+2.2 ppm/°C之間變化，總的變化小于4.37 ppm/°C。在相同的溫度范圍內(nèi)，制造商A的薄膜電阻樣品的TCR將從-3.6 ppm/°C到+7.2 ppm/°C，總計(jì)接近11 ppm/°C;從制造商B，從-9.1 ppm/°C到+4.99 ppm/°C，總共是14 ppm/°C。換句話說，精密薄膜電阻可能表現(xiàn)出TCR遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于制造商指定的數(shù)據(jù)表限制。

重要的是要強(qiáng)調(diào)，體積金屬箔電阻的TCR是通過匹配兩種相反的效應(yīng)來實(shí)現(xiàn)的，一種是由于溫度升高而引起的固有電阻增加，另一種是由于溫度升高而引起的與壓縮有關(guān)的電阻減少。這兩種效應(yīng)同時(shí)發(fā)生，導(dǎo)致了異常低的、可預(yù)測的、可重復(fù)的和可控的TCR規(guī)范。因此，大塊金屬箔電阻實(shí)現(xiàn)了固有的最大穩(wěn)定性和接近零的TCR，這一規(guī)格不依賴于篩選或其他人為手段來實(shí)現(xiàn)均勻的高精度電阻性能和溫度穩(wěn)定性。這種嚴(yán)格的TCR計(jì)算方法，從VPG的經(jīng)驗(yàn)，是用來確保高精度電阻可靠性跨越全阻值和工作溫度范圍。

低TCR在高精度電阻應(yīng)用中的優(yōu)勢

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